AS-2012 激光粒度分析仪利用静态光散射原理，根据米氏散射理论，精确地测量颗粒的粒度分布。该仪器测量范围 0.04-500 微米，耐用激光二极管不仅优化了激光衍射的准确度而且保证了粒度仪的使用寿命；专利一体光具座彻底根除了粒度分析的隐患 - 光路偏移；用户友好的粒度分析软件和先进的算法使仪器的准确性及重复性都达到国际标准 ISO13320-1 的要求。此款仪器已经成为粒度表征业的最佳的亚微米级粒度仪解决方案。